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4.10日到货,日本SANKO山高电磁式膜厚仪 SL-200E

日本SANKO山高电磁式膜厚仪 SL-200E

产品简介:


特征

模拟膜厚仪

非常适合测量小零件,高性能小型2极型:可以测量小地方和内部(定制)

该探头体积小,适用于测量局部涂层的厚度,如平面和弯曲到圆棒、零件、复杂形状和内部。



规格

测量范围:0 至 500 μm

探头:磁极/2极型,磁极直径/φ2.5,尺寸/10(W)×17(H)×21(D)mm

尺寸:190 (W) x 90 (H) x 120 (D) 毫米

重量:1.8公斤

附件:标准板、AC适配器、肩包