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X射线荧光分析仪原理

物质受到短波长X射线照射而二次产生的X射线称为荧光X射线。正如太阳光包含各种波长的光一样,X射线荧光包含各种波长的X射线,但在波长和强度光谱中存在许多尖锐的峰值。这些是材料中元素发射的特征 X 射线的峰值。

当原子的电子壳层受到高能(短波长)X射线照射时,内层电子被弹出并移动到外壳层,形成不稳定状态。为了解决这种情况,电子从外部移动到空的内壳中,波长与两个壳层之间的能量差相对应的X射线就成为特征X射线。

通过每种特征X射线的独特波长可以识别元素,并可以根据其强度确定元素的含量。