主营产品: 光学设备、电子计测仪器、科学仪器、机械加工设备、环境试验设备、PC周边用品、作业工具用品、物流保管用品、化学用品、FA自动化
产品中心
DNL
ETA
 

产品资料

膜厚计
产品型号:KQ-4200C-F
简介:

COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计

膜厚计  的详细介绍
COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计COTEC可泰KQ-4200C-F膜厚计

デュアル(磁力(磁束)/渦電流切替)モデル

プローブ固定型です。ユーザーご自身でプローブを交換することはできません。

  KQ-4500-FN KQ-4500C-FN KQ-4500-F5N3 KQ-4500C-F5N3
プローブ 内装一体型 1mケーブル付 内装一体型 1mケーブル付
対象素地金属 鉄/非磁性両用
測定素地モード 磁力(磁束)/渦電流切替(ワンタッチ切替)
※素地種を自動で検知→モードが違う場合には注意表示→ボタンでモードを切り替え
個別/連続測定モード プローブ押し当てるごとに1回測定する個別測定のみ(連続スキャンモードには非対応)
リミット機能 なし
メモリー機能 なし
統計機能 なし
ユーザー校正 素地(ゼロ点)のみ。2点校正には対応していません
測定範囲 Fe:0~3,000μm
N:0~3,000μm
Fe:0~3,000μm
N:0~3,000μm
Fe:0~5,000μm
N:0~3,000μm
Fe:0~5,000μm
N:0~3,000μm
測定間隔 0.85秒(約60回/分)
測定精度 Fe ±2μm+読取値3% 0~2mm:±2μm+読取値3%
2mm~ :±2μm+読取値5%
N ±2μm+読取値3% 0~2mm:±2μm+読取値3%
2mm~ :±2μm+読取値5%
*小測定可能面 直径φ25mm
画面表示 単位切替可能:μm⇔mil切替
表示分解能:999μmまでは1μm、1,000μm(1mm)以上は0.01mm(10μm)
バックライト機能:なし
フリップディスプレイ機能:なし
*小測定可能半径
(曲面に対して)
凸面:曲率半径5mm
凹面:曲率半径25mm
素地*小厚み Fe:0.2mm
N:0.05mm
使用時環境温度 0~50℃(結露無きこと)
保管場所温度 -10~60℃(結露無きこと)
大きさ L100×W60×H27mm(プローブ内装一体型)
電源 単3(AA)アルカリ乾電池×2本
重さ(電池込) プローブ内装一体型:105g、ケーブルプローブ型:147g

磁力(磁束)専用モデル

プローブ固定型です。ユーザーご自身でプローブを交換することはできません。

  KQ-4200-F KQ-4200C-F KQ-4200-F5 KQ-4500C-F5
プローブ 内装一体型 1mケーブル付 内装一体型 1mケーブル付
対象素地金属 鉄・鋼
測定方法 磁力(磁束)
個別/連続測定モード プローブ押し当てるごとに1回測定する個別測定のみ(連続スキャンモードには非対応)
リミット機能 なし
メモリー機能 なし
統計機能 なし
ユーザー校正 素地(ゼロ点)のみ。2点校正には対応していません
測定範囲 Fe:0~3,000μm Fe:0~3,000μm Fe:0~5,000μm Fe:0~5,000μm
測定間隔 0.85秒(約60回/分)
測定精度 Fe ±2μm+読取値3% 0~2mm:±2μm+読取値3%
2mm~ :±2μm+読取値5%
*小測定可能面 直径φ25mm
画面表示 単位切替可能:μm⇔mil切替
表示分解能:999μmまでは1μm、1,000μm(1mm)以上は0.01mm(10μm)
バックライト機能:なし
フリップディスプレイ機能:なし
*小測定可能半径
(曲面に対して)
凸面:曲率半径5mm
凹面:曲率半径25mm
素地*小厚み Fe:0.2mm
使用時環境温度 0~50℃(結露無きこと)
保管場所温度 -10~60℃(結露無きこと)
大きさ L100×W60×H27mm(プローブ内装一体型)
電源 単3(AA)アルカリ乾電池×2本
重さ(電池込) プローブ内装一体型:105g、ケーブルプローブ型:147g