HIOKI日置LCR测试仪IM3523，京都玉崎日本原装进口 HIOKI日置LCR测试仪IM3523，京都玉崎日本原装进口 HIOKI日置LCR测试仪IM3523，京都玉崎日本原装进口
应用于生产线和自动化测试领域的理想选择
● 基本精度±0.05％，测量范围广(DC,40Hz～200kHz，5mV～5V，10μA～50mA) ● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下，可以以往产品10倍的速度不间断测试。 ● 内置比较器和BIN功能 ● 2ms的快速测试时间
本产品不标配测量探头和测试夹具。请结合应用单独选择和购买合适的测量探头和测试夹具。所有探头均带有一个1.5D-2V的同轴电缆。RS-232C接口连接：交互连接可使用交叉电缆。您可使用RS-232C电缆9637，不需要硬件控制器。
在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时，使用1台告诉连续测量不同条件。
为了使用1台LCR测试仪测量多种产品，要求高效率的更改设置。 IM3523的面板保存功能更，*多保存60组测量条件，还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外，可以使用外部控制端口控制面板编号的读取，因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。
检查4端子测量时样品间的接触不佳。 测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻，如果在所设置的阈值以上时则显示错误。