电子设备对静电的耐受力越来越差，静电控制电压也越来越低。可以高精度地测量传统型号难以测量的 100V 以下的电荷，并且可以从 0.1V 开始测量。此外，通过缩小测量区域，现在可以测量诸如LSI封装表面之类的狭窄区域。