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产品资料

绝缘劣化评价试验
产品型号:HiPー1000/n
简介:

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绝缘劣化评价试验  的详细介绍
HiPー1000/n绝缘劣化评价试验IMV艾目微玉崎供应
モデル HiP-1000/n HiP-500/n
印加電圧 +1000.0V +500.0V
チャンネル数 8CH~64CH(増設8CH毎)
*大増設可能チャンネル 64CH
絶縁抵抗測定範囲 105Ω~1014Ω
直流電流測定範囲及び測定レンジ 0.1pA~250μA(5測定レンジ) ※固定レンジ・オートレンジ選択可
0.1pA~5nA
100pA~500nA
1nA~5A
10nA~50μA
100nA~250μA
電流値測定精度
5nAレンジ :±5%±100pA
500nAレンジ :±3%±5nA
5μAレンジ :±2%±10nA
50μAレンジ :±1%±100nA
500μAレンジ :±1%±1μA(*大250μA)
注意)1000V印加時対レンジフルスケール
5nAレンジ :±5%±100pA
500nAレンジ :±3%±5nA
5μAレンジ :±2%±10nA
50μAレンジ :±1%±100nA
500μAレンジ :±1%±1μA(*大250μA)
注意)500V印加時対レンジフルスケール
バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式(1パワーサプライ→1CH)
バイアス印加電圧設定
(0.1V単位任意)
+1.0V~+999.9V(グループ[8CH]単位) +1.0V~+500.0V(グループ[8CH]単位)
バイアス印加電圧レンジ 1000V 500V
バイアス印加アンプ オペアンプ方式
出力ノイズ:*大±5mV
高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用
高圧オペアンプによる100μsecオーダーの高速レスポンス
バイアス印加電圧精度 ±( フルスケールの0.5%±1V)
バイアス電圧測定精度 ±( フルスケールの0.5%±1V)
*大試験可能時間 9,999時間
測定方法 全チャンネルダイレクト測定(メカニカル・リレーは使用していません)
高速16ビットA/Dコンバータ
測定回路 絶縁抵抗方式
電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル
ケーブルオープン検出機能 計測/出力ケーブルのコネクター脱落を検出しアラーム警告
収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・電流値・印加電圧・温度/湿度(要チャンバー通信オプション)
パソコン OS:WindowsXP(Windows7対応予定)産業用を推奨
マイグレーション測定モード

エンドモード : マイグレーション発生点で終了

トリガーモード:マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了
タイムモード : マイグレーション発生閾値、終了閾値で発生回数をカウント(*大50回)

電源AC100V 50/60Hz 約1500VA/ラック(64CH)パソコンは除く
ユニット外形寸法(突起部除く) W430×D550×H635mm
質量 約85kg(64CH)