FN-325(両用）,SANKO膜厚计.关联测定器,SANKO山高，
探测头型号
FN-325
测量方式
电磁式·涡电流式两用（铁·非铁底材自动识别）
测量范围
铁底材：0～3.00mm、非铁底材：0～2.50mm
表示分辨率
1μm：0～999μm的切换（铁·非铁共通）
0.1μm：0～400μm（铁·非铁共通）
0.5μm：400～500μm（铁·非铁共通）
0.01mm:1.00～3.00mm（铁底材）
0.01mm:1.00～2.50mm（非铁底材）
测量精度
（平滑表面）
0～100μm：:1μm（铁·非铁共通）
或者是指示值的±2%以内
101μm～3.00mm:±2%以内（铁底材）
101μm～2.50mm:±2%以内（非铁底材）
探测部
1点定压接触式、V形切口、φ13×52mm、72g
选择产品
V形探测头套有3种（φ5以下用、φ5～10用、φ10～20用）
附属品
标准校正板、试验用零校正板、（铁用·非铁用）
测量对象
铁底材：铁·钢等磁性金属底材上的皮膜、衬层、喷涂膜、
电镀（电解镍除外）等
非铁底材：铝、铜等非磁性金属底材上的绝缘皮膜等
一般较普遍的测量物用