日本KURABO在线膜厚计RX-200,
特长
把红外线照射到被测物上,就会发生与膜厚相对应的特定波长的红外线吸收现象｡从透过光或镜面金属板的正反射光来掌握吸收量,再按事先测得的吸光度与水分值的关系式,可以测量膜厚｡ 并且,采用本公司独自的P偏光入射方式｡消除因表面反射或内部多重反射引起的误差,提供红外线测厚仪*理想的硬件｡
· 节省空间(在线) 因为是小型传感器头,故不受放置空间约束｡只需占用现有生产线上的狭小空间｡
· 瞬间测量 无需任何前处理｡且可实现非破坏､非接触的瞬间测量｡
· 广泛的适应性 通过由*大6波长组成的滤光器,可以测量各种材质的膜厚及水分｡
· 出众的测量精度 通过采用本公司独自的P偏光方式,即使是几ΜM以下的薄膜,也可得到稳定的测量结果｡
· 拥有值得信赖的长期稳定性 根据周围环境和装置的变动,采用3波长测光方式确保长期性的精度
用途
· LCD用光学薄膜测厚
· 聚合电池的隔离板测厚
· 彩色显像管荫罩的感光乳剂测厚
· 铝箔上的乙烯涂层测厚
· 防雾加工薄膜的防雾剂涂层测厚
· 复合膜的粘合剂涂层测厚
· 收缩标签的脱胶检查等
· 钢板上的有机附着量测量
日本KURABO在线膜厚计RX-200