TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR;
高精度测定超微弱近红外光
近年来，在显示器及照明市场上，对“近红外领域”的测定需求日渐增多。之前，行业内并没有一款能够简便且高精度测定近红外光的相关仪器。拓普康公司在通过开发生产SR系列分光辐射度计所培育并积累起来的技术基础之上，开发出了“SR-NIR近红外分光辐射度计”。本产品和其他型号的SR系列分光辐射度计一并使用，能够测定380nm-1030nm的分光辐射亮度。
TOPCON拓普康近红外分光辐射亮度计SR-NIR
特点：
●能测定从FPD到微弱发光的近红外领域。
●高精度测定近红外领域(600～1030nm)的分光分布。
●和本公司其他型号的分光辐射度计一并使用时，能够测定可见光～近红外光（380～1030nm）的分光分布。
用途：
●观察各类FPD的近红外领域的输出
●观察Ne、Ar的光谱线输出。
●光学膜等的近红外透过特性评价。
●其他光源的近红外分光测量。
色度计/亮度计 BM-7A SR-3AR，分光放射计 SR-LEDW，分光辐射亮度计 UVR-300，紫外线强度计 UVR-T1，紫外线强度计 IM-2D，照度计 BM-5AS，照度计 BM-9A，照度计/BM-920D，照度计 IM-600，照度计 IM-1000，显色照度计 UD-T36，探头 UD-400，探头 ZV-16， ZV-21， 亮度色度均匀性测定器 UV-10 RL-VH4DR，激光基准显示仪 UD-T25，紫外辐照计 RD-80SA，响应时间测定仪/色彩辉度检测器 RL-VH4DR，激光基准显示仪 RL-VH4G2，激光基准显示仪 RL-VH4DR+G2-ch，激光基准显示仪 SR-3，分光辐射度计