纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩纳米扫描流动粒度仪1nm的SMPS3938E77日本TOKYO DYLEC东京乐彩
－1nmまで測定可能範囲が広がった走査式ナノ粒子粒径分布計測器 －
1μm以下のエアロゾルの粒径分布を判断するための基準として、TSIのSMPSTMは広く使われています。 モデル3777 Nano Enhancerとモデル3086 Differential Mobility Analyzer（1nm-DMA）の追加により、SMPSの測定可能範囲は、*小1nmまで広がりました。