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产品资料

膜厚计
产品型号:Elnix 8500 **版/基本版
简介:

兼作探头型的传感器一体型电磁式膜厚计 测量范围:0-5000µm 数据内存 13000 点 (Premium) 统计计算功能

膜厚计  的详细介绍

产品概要

Elnix 8500 **版/基本版
  • 兼作探头型的传感器一体型电磁式膜厚计
  • 测量范围:0-5000µm
  • 数据内存 13000 点 (Premium)
  • 统计计算功能

主要规格

原型类型 Fe 探头 (FeP) 或无线双探头 (WDP)
测量方法 电磁感应型、过电流型(**WDP)
测量对象 磁性金属(铁/钢)上的非磁性涂层(FeP、WDP)、非磁性(有色金属)金属上的绝缘涂层(WDP)
测量范围 0 至 5000 μm(5000 μm 显示为 5.00 mm)
测量精度 0~小于2000μm:±1μm+2%,2000μm以上±3.5%(2000μm显示为2.00mm)
解决 100 微米以下 0.1 微米,1000 微米以下 1 微米,1000 微米以上 10 微米。小于 100μm (0.01μm, 0.1μm, 1μm) 可分 3 步切换 Premium
数据存储器数量 Premium: 13,000 points or more (2,000 points/batch), Basic: 100 points
批次数 **:200,基本:1
附加功能 **:14种各种设置,基本:10种各种设置
电源 电池 1.5V (AA 碱性) x 2
尺寸/质量 67(W)×124(D)×33(H)mm, 0.12Kg
配件 铁基、铝基 (WDP)、标准板(100 μm、1000 μm、3000 μm、近似值、各 1 个)、便携包、探头连接电缆 (FeP)、背带 (WDP)、软包