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产品资料

现货京都玉崎SANKO三高 膜厚计
产品型号:SWT-7000III
简介:

现货京都玉崎SANKO三高 膜厚计  的详细介绍

新型双探头FN-325具有自动(智能)设置,为您提供轻松简单的操作:

探头FN-325可与SWT-7000Ⅲ系列(7000Ⅲ、7100Ⅲ、7200Ⅲ)配合使用,测量Fe和NFe金属基材。


规格

可选的 SWT 探头可以互换。
◆ 双型 : FN-325※
◆ 黑色金属用 : Fe 型
◆ 有色金属用 : NFe 型

※新型 FN-325 不能与 SWT-7000、SWT-7000Ⅱ系列配合使用,只能与 SWT-7000Ⅲ系列配合使用
探头类型
双FN-325(SWT-7000Ⅲ系列专用)
测量方法
电磁/涡流两用
测量范围
黑色金属:0~3.00mm
有色金属:0~2.50mm
基材检测
自动或手动切换
显示分辨率
1μm:0~999μm
切换,
0.1μm:0~400μm,
0.5μm:400~500μm,
0.01mm:(黑色金属1.00~3.00mm) ,(有色金属1.00~2.50mm)
准确度(将探头垂直放置
黑色金属与有色金属两用
0~100μm:±1μm或±2%读数值(黑色金属)
101μm~3.00mm:±2%(有色金属)
101μm~2.50mm:±2%
探测
一点接触恒压型,
带V形切口 φ13×52mm,72g
选项
V型探头适配器(3种:Φ5以下、Φ5~10、Φ10~20)
配件
校准标准件(塑料箔) 调
零板(铁、有色双元)
测量目标
Fe基体:铁、钢等磁性金属上的涂层、衬里、热喷涂、电镀(电解镀镍除外)
NFe基体:铝、铜等非磁性金属上的绝缘膜