日本ORC，UV能量计UV-M10-P/S；
用于管理使用的紫外线照射紫外线强度的测量仪器系统。因为预设了控制信号切换点输出，所以可以用来控制UV照射装置等的曝光量度。
特点： 1.在紫外线光量计简单的测量，可以输出一个紫外线照射的控制信号。 2.10个光量频道设置，光量测量，发光强度测量，设置计时器，预备时间测量等多种功能。 3.在光量测量中，发光强度显示和时间显示可自由切换。 4. UV-M10-S台式仪器，或选择机器内置型UV-M10-P。 5.受光器已被使用，根据紫外线的敏感度以及测试范围有UV-25，35，42可供选择。在半导体，液晶用基板的制造的工序中选用UV-SD25，UV-SD35，UV-SD42；在电子电路(印刷)基板的制造工序中选用UV-SN25，UV-SN35，UV-SN42。 测量数据，可通过RS-232C接口连接到PC，同时还具有模拟输出。
◆SD型和SN型： SN型由于承蒙从以前使用本公司制的曝光装置和照射装置等被的顾客宽广地采用的东西，确保着流程管理的继续性采用的类型。 SD型在半导体和液晶用基板的制造流程中使用，已经使用的顾客，如果被重视跟那些的测量器的数据的兼容性确保的(本公司制的曝光装置在投影型曝光装置和液晶基板用周边曝光装置SD型也被采用)，完全被新规章变成发光强度计等为使用的顾客推荐着其他公司制的发光强度计。
◆SD型和SN型读取： SD型和SN型阅读，确保从以前的过程数据的兼容性（如由高压365mm的紫外灯照射线相同的测量条件下，测得用作辐射源校准在我们组测量当显示的强度值：mW/cm2）进行调整，显示39%的较高反映。
◆光量计与数据兼容性： 紫外线照射在测光表上显示（测光表是来衡量LUX博物馆和办公楼，商场的亮度），测后调整差异，适用所有的紫外线照射标准（运行中，数量限制性，JIS一个小的应用程序）。 每家生产光源的企业相对于紫外线的光感度，是用于测量照度。光线作为一个开端来源的主要是365mm，测量峰值波长（波长在一个相对紫外线光感度显示）提出排放，短波长（约300nm-310nm）和长波（约380nm-310nm）的曲线呈上升趋势略有不同波长，前、后倒下。 拉近了与接收器的接收角特性理想曲线。
日本ORC，UV能量计UV-M10-P/S； 规格： 受光器(可更换) UV-SD35(UV-SN35) 测量波长范围 310～385nm 测量光量范围 0.01～999.9mJ/cm2 测量发光强度范围（开关转换）1:0.01～10.00mW/cm2 范围2:0.1～50.0mW/cm2 输入输出信号(D-辅助连接口) 输入， (1)远程启动 (2)远程停止 继电器输出， (1)NO.(ON启动时) (2)NC. (3)报警 标准仪器配件的精度±2％以内 重复精度 ±1.0％以内
ORC，UV照度计其他型号； UV-M03A,UV-M10-P/S,UV-351,UV-M06H,UV-M08,UV-M10-P-02，UV-M10-S-02。