主营产品: 光学设备、电子计测仪器、科学仪器、机械加工设备、环境试验设备、PC周边用品、作业工具用品、物流保管用品、化学用品、FA自动化
产品中心
DNL
ETA
 

技术详情

手持激光测距仪的测量盲区是怎么形成的

手持激光测距仪的测量盲区主要是由光学系统结构、激光散射与反射、电路响应时间等因素形成的,具体如下:

  • 光学系统结构问题:手持激光测距仪的发射光路和接收光路通常是离轴的。为了测试远距离的目标,激光发射光束与探测器的视场会在远距离处对准,而在近距离范围内,二者可能完全没有交叠,导致探测器无法接收到近距离目标反射的信号光,从而形成盲区。
  • 激光散射与反射影响:空气中存在的微粒会对激光产生散射作用,近距离范围内,这些散射光形成的反射信号较强,可能会形成虚假的回波信号。此外,在激光出射口很近的地方,会有很强的回波信号,该信号经过接收电路的脉冲成形电路后会形成干扰脉冲,使得在一定时间范围内的目标无法测距,进而产生测量盲区。
  • 接收电路响应限制:激光探测器存在死区时间(Dead Time),即接收到一个激光脉冲后,到能够再次接收一个新激光脉冲所需的*短时间。当障碍物距离太近时,由于激光接收器还处于死区时间内,近距离物体的脉冲回波无法被探测到,导致该区域无法准确测距,形成盲区。
  • 光斑成像位置偏差:若近距离盲区内有目标,从该目标反射回来的信号光通过接收透镜所成的像点可能不在接收透镜的焦平面上,而是在焦平面之后,使得探测器无法有效接收信号,这也是形成测量盲区的原因之一。